膜厚测试仪属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。

它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm。

我公司集中了国内最优秀的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员,依靠先进科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合中国的特色,开发生产出的Thick-880 型X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

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苏州实谱信息科技有限公司位于江苏苏州专业从事X射线荧光膜厚测试仪研发生产的高新技术企业。我公司涉及X射线荧光光谱仪、ROHS测试仪、X-ray膜厚仪、X荧光陶瓷鉴定仪、便携光谱仪等领先产品解决方案,并具有多年的X射线荧光光谱仪相关产品与服务的销售和经验。凭借专业的技术,诚信的经营,和不断创新的精神公司发展迅速。在发展的同时公司不忘不断总结不断优化为客户的服务,和一如既往的热情赢得了新老客户的极高评价及青睐。

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