HDXRF 和传统 XRF 分析仪之比较

高清晰 X射线荧光 (HDXRF?) 是 XRF 分析行业的新一代技术。

传统 XRF 是定性与定量分析材料中各种元素的强大工具,而 HDXRF由于其极低的检测极限,特别适用于有着严苛要求的有毒元素分析,如对儿童用品、服装、珠宝、电子产品和其他消费品中低含量有毒元素检测。

定量分析消费品中重金属元素时,传统 XRF 与 HDXRF 技术有什么不同?

传统 XRF 面临如下挑战:

  • 测量结果是涂层和基材的平均值
  • 无法测出低浓度铅,即便在基材中也不能
  • 由于束斑较大,测出的结果是各不同微小特性和材料的平均值
  • 表面涂层结果为单位面积质量,而非 CPSIA 要求的百万分率 (ppm)

HDXRF 技术旨在通过获得专利的 DCC 透镜提升测量水平和精准度。

HDXRF 功能和优势:

  • 消除散射背景,从而大幅度提升元素检测下限
  • 能分别测出涂层和基材中的有毒元素浓度
  • 多个 DCC 透镜形成一个聚焦强光束 – 1mm 分析区域。

XOS总部位于纽约, 隶属于美国丹纳赫公司(NYSE:DHR)。XOS是全球领先的元素分析设备和关键性应用材料生产商,拥有专利的X射线光学技术DCC?,针对不同的客户和应用提供特定的元素分析解决方案。

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刘经理  15050233780

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中国.苏州